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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
技术参数:· 光谱范围:450-1000nm· 多种微光斑自动选择· zl光斑可视技术,可观测任何样品表面· CCD探测器· 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向· 自动调节
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Sentech激光椭偏仪SE 500adv
产地属性欧洲价格范围80万-100万椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。 激光椭偏仪SE 500adv,结合椭偏反射CER的SE 500adv 椭偏仪SE 500adv
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Sentech 激光椭偏仪 SE 400adv
稳定的氦氖激光器保证了0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。多角度测量的完全集成支持(40°—90°,5°步进),可用于确定层叠的厚度、折射率和消光系数。激光椭偏仪SE 400adv测量透明薄膜的厚度
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PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101
/4kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C功率AC100-240V(50/60Hz)软件SE-View凑型桌面式椭偏仪 SE-102型号SE-102重复性厚度0.1nm,折射率
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光谱椭偏仪
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